テクニカルショウ ヨコハマ 2010 出展報告

投稿日時 2010-02-15 16 | カテゴリ： 電気学系トピックス
2月3日（水）～5日（金）に横浜・みなとみらい地区のパシフィコ横浜にて，「第31回工業技術見本市　テクニカルショウ ヨコハマ　2010」が開催され，本学から産学公連携ブースに物質生命科学科の山下嗣人教授，及び本学科の簑弘幸教授の研究室が出展しました。

簑弘幸教授のブースでは「ノイズが情報伝達に役立つ？」と題し，ノイズの効用に関する研究についてのパネル展示，説明を行いました。また，ノートＰＣを使用し，ノイズの量を変化させることで，微弱な画像映像が浮き上がってくる「確率共振現象」に関するデモンストレーションを行いました。





確率共振現象とは，微弱な信号を適量のノイズと共に入力すると信号成分が強調されて出てくる現象のことをいい，ノイズが弱すぎれば画像が浮き出ず，強すぎるとノイズばかりが現れて画像が見えなくなってしまいます。


大脳辺縁系の海馬での神経細胞モデルにおいても確率共振現象が観測されており，この研究が海馬で行われている記憶や学習に関する情報処理メカニズムの理解に役立つことを願っております。


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